BSD-PS2型白(bái)炭黑比表面孔徑分(fēn)析儀，具有2個樣品預處理脫氣站，2個樣品分(fēn)析站。測試精度高、重現性好。重複性誤差小(xiǎo)于±1.5%。測試範圍：比表面0.01m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大(dà)孔：50-500nm，
更新時間：2023-12-07
廠商(shāng)性質：生(shēng)産廠家
産品型号：BSD-PS2
BSD-PS2型白(bái)炭，具有2個樣品預處理脫氣站，2個樣品分(fēn)析站。測試精度高、重現性好。重複性誤差小(xiǎo)于±1.5%。測試範圍：比表面0.01m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大(dà)孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間：2023-12-08
廠商(shāng)性質：生(shēng)産廠家
産品型号：BSD-PS2
BSD-PS2型炭黑孔體(tǐ)積分(fēn)析儀，具有2個樣品預處理脫氣站，2個樣品分(fēn)析站。測試精度高、重現性好。重複性誤差小(xiǎo)于±1.5%。測試範圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大(dà)孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間：2023-12-08
廠商(shāng)性質：生(shēng)産廠家
産品型号：BSD-PS2
BSD-PS2型氧化鋁孔體(tǐ)積分(fēn)析儀，具有2個樣品預處理脫氣站，2個樣品分(fēn)析站。測試精度高、重現性好。重複性誤差小(xiǎo)于±1.5%。測試範圍：比表面0.01m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大(dà)孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間：2023-12-08
廠商(shāng)性質：生(shēng)産廠家
産品型号：BSD-PS
BSD-PS型氧化鋁比表面孔徑分(fēn)析儀，具有2個樣品預處理脫氣站，2個樣品分(fēn)析站。測試精度高、重現性好。重複性誤差小(xiǎo)于±1.5%。測試範圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大(dà)孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時間：2023-12-08
廠商(shāng)性質：生(shēng)産廠家
産品型号：BSD-PS
