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  • 矽碳比表面積及孔徑分(fēn)析儀 查看詳細介紹

    矽碳比表面積及孔徑分(fēn)析儀,比表面積及介孔,微孔,超微孔分(fēn)析 高通量分(fēn)析:最多同時分(fēn)析12個樣品 真正全自動:脫氣→測試,全自動切換,無需人爲幹預。測試範圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大(dà)孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國内,遠銷海外(wài),獲得多項國内技術。

    更新時間:2023-12-27

    廠商(shāng)性質:生(shēng)産廠家

    産品型号:BSD-660

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